由于非对称波导的影响，LD输出的光束在垂直于结平面（快轴）和平行于结平面（慢轴）的两个方向上由不同的发散角，芯片解密而且两个方向的束腰也不在同一个位置上，即存在固有像散。

LD输出的光束必须要经过整形才能实际应用，因此，计算或实际测量LD的像散是非常重要的。

1）LD像散的计算
在LD的指标书中，一般都没有给出像散的值，但是大都会给出LD的发光区大小（比如1um×50um，1um×100um等），快轴θ⊥和慢轴θ∥的发散角大小。

需要注意的是， LD的指标书中一般用半高全宽 FWHM 定义远场发散角（全角），即光功率下降为最大光功率的一半时的发散角。  

但是，在ZEMAX中，芯片解密高斯光束使用 Apodization Type 切趾类型中的 Gaussian 来仿真。当 Apodization Factor=1，边缘光线对应的光强为中心光强的1/e2 (≈13.5%)。

基模高斯光束的FWHM与1/e2发散角的变换关系如下：  

以下是LD像散计算示意图：  

上图中，发光面上，快轴方向可看成是从点Oy发光，其发散角较大，慢轴方向可看成是从发光面两端发光（反向延长后交点在Ox），其发散角较小。t为像散，θx为θ∥的一半（1/e2），L为慢轴方向的发光区大小。由此，可简单计算得到像散为

2）刀口法测量LD像散值
刀口法可以用来测量高斯光束的光强分布、远场发散角、透镜的MTF，也可以用来测量LD的像散值。

刀口法测量LD像散值的系统，芯片解密包括了LD、透镜、刀口、光电探测器或光功率计

测量方法：

A）激光二极管（LD）是被测光源，发射激光束经过透镜聚焦，形成不同角度的光束完整地打到光电探测器或光功率计上。
B）将刀口安装在位移台（例如螺旋测微器或多维调整架）上，并置于快轴光束的边缘位置。

C）横向移动刀口位置，使刀口缓慢截断光束，并测试刀口位置与透过功率的关系。

D）可以采用25%/75%或10%/90%刀口测量方法，利用测试得到的数据，拟合出在该位置的光束直径。

E）前后移动刀口位置或LD位置，按照上述方法多次测试新位置处的光束直径，并找到快轴焦点(光束直径最小)的位置。  

F）将刀口旋转90°，并置于慢轴光束的边缘位置。

G）采用上述的方法，找到慢轴各个位置处的光束直径，并找到慢轴焦点的位置。  

H）快轴和慢轴焦点位置的差值就是LD像散差As。   

3）狭缝法测量LD像散值

狭缝法测量LD像散值的系统，包括了LD、透镜、分束棱镜、光功率计、相机、横缝光阑和竖缝光阑。

测量方法：
A) 激光二极管（LD）是被测光源，发射激光束经过透镜聚焦，形成不同角度的光束打到分束棱镜上，一部分透射形成透射光束，另一部分反射形成反射光束，使用相机监控反射光束的光斑形态。
B) 将横缝光阑安装在光功率计上，并可以随着光功率计上下移动。
C) 在光功率计上下移动的过程中，根据光功率计实时测量的透射光束的功率，选取光功率的峰值位置作为目标位置，如果光功率峰值不止一个，那就选取最中间峰值位置作为目标位置。此时，这个目标位置就是快轴或慢轴的焦点位置。
D) 将竖缝光阑安装在光功率计上，替换横缝光源，并固定光功率计的位置。

E) 使用位移调整架，将LD向前或向后移动，再次找到光功率的峰值位置，此时处在慢轴或快轴的交点位置。